Скоростное шлифование машиностроительных материалов

В этом случае производительность чистового шлифования повышается в 2,5 раза, а тонкого — в 3-4 раза по сравнению с обычными условиями шлифования стали ШХ15. Чистота поверхности обеспечивается в пределах 8 для чистового и в пределах 9 для тонкого шлифования, при этом отсутствуют ожоги.

Следовательно, процессы шлифования могут быть разнообразными с точки зрения выбора режимов резания, длительности процессов, свойств и формы абразивного инструмента, условий охлаждения, свойств обрабатываемого материала и т. д. В соответствии с этим могут быть получены разнообразные свойства обрабатываемой поверхности и субповерхностных слоев материала, в зависимости от требований, которым должны соответствовать обрабатываемые детали.

Некоторые специальные приемы шлифования могут обеспечить высокое качество поверхности и материала. Поэтому, когда требования к обрабатываемым поверхностям особенно высоки, следует ограничиваться одним из производительных способов интенсивного шлифования и дополнять его специальными отделочными операциями, обеспечивающими заданное качество поверхности.
Окончательные и отделочные механические операции обеспечивают высокую степень чистоты поверхности или упрочнение материала вблизи поверхности, уменьшают внутренние остаточные напряжения, полученные при предыдущих видах обработки.

Отделочные операции изменяют не только микрогеометрию поверхности, но и влияют на структуру и напряженное состояние поверхностного слоя.
Современные стандарты различают геометрический профиль поверхности — профиль, который указан на чертеже, получаемый при сечении поверхности нормальной плоскостью, профиль реальной поверхности, которая ограничивает тело и отделяет его от окружающей среды, и действительный или измеренный профиль, получаемый с помощью специальных приборов. Степень приближения измеренного профиля к реальному определяется рядом факторов: радиусом закругления щупа, ощупывающего измеряемую поверхность; усилием прижима щупа к поверхности; частотной характеристикой электроприборов или разрешающей способностью оптических приборов, применяемых при оценке микрогеометрии и т. д.